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Le FlexSEM est un microscope électronique de table ou sur pied qui combine les performances et la flexibilité d'un MEB de taille normale avec la simplicité d'un MEB de table. Combiné à la microanalyse... HD-2700 Résolution spatiale: 0, 14, 0, 1, 0, 2 nm Grossissement: 100 unit - 10 000 000 unit... Le HD-2700 est un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à émission de champ de 200 kV, doté d'une capacité d'imagerie par électrons secondaires (SE). Les structures en vrac et en surface... microscope électronique à transmission HT7800 series Résolution spatiale: 0, 14, 0, 19, 0, 2 nm Grossissement: 600 000, 1 000 000, 800 000 unit... Le HT7800 est un TEM 120 kV très polyvalent, entièrement numérique, offrant des performances élevées pour tout utilisateur et une vaste gamme d'options de caméra. L'instrument est hautement configuré en standard et offre... À VOUS LA PAROLE Notez la qualité des résultats proposés: Abonnez-vous à notre newsletter Merci pour votre abonnement. Une erreur est survenue lors de votre demande.

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Notre microscope électronique... microscope SEM GeminiSEM series Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable. La famille GeminiSEM est synonyme d'imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS... Voir les autres produits Zeiss Microscopy... Microscope électronique à balayage à émission de champ JSM-7900F Schottky Le JSM-7900F est le nouveau fleuron des microscopes électroniques à émission... Voir les autres produits Jeol Résolution spatiale: 0, 4 nm Grossissement: 3 000 000 unit... Microscope électronique à balayage à ultra-haute résolution SU9000 La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie haute résolution avec une petite taille de source et... Voir les autres produits Hitachi High-Technologies Résolution spatiale: 1, 1, 8, 2, 6, 2, 5, 4, 6 µm quand la microscopie fusionne avec la métrologie Le NPS est un capteur confocal à lumière blanche combiné à une table motorisée de haute précision.

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Le microscope électronique à balayage SU3500 est doté... Voir les autres produits Hitachi High-Technologies... mm. Une platine motorisée à 5 axes rend la grande chambre idéale pour une grande variété d'échantillons. Le microscope électronique à balayage (MEB) s'étend aujourd'hui à un champ d'applications... microscope SEM TM3030Plus... ), d'une grande zone de détection (30 mm2) et de multiples analyses élémentaires telles que l'analyse de points/zones, le balayage de lignes et la cartographie. L'observation d'échantillons non recouverts permet un fonctionnement... microscope à sonde à balayage AFM5300E Grossissement: 5, 12, 7 unit... environnements qui ne peuvent pas être réalisés par des unités SPM conventionnelles à grande échelle. L'instrument de mesure électronique sous vide poussé permet de contrôler au maximum les effets de l'eau de surface... À VOUS LA PAROLE Notez la qualité des résultats proposés: Abonnez-vous à notre newsletter Merci pour votre abonnement. Une erreur est survenue lors de votre demande.

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Échantillons de matériaux & de poussière N° de commande Prix par échantillon en euros (€) - net / brut (y compris la T. V. A. )

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Résultat qualitatif avec estimation de la masse du taux d'amiante, conformément aux classes de titre massique figurant dans le projet de l'association VDI 3866, part 5. Limite de détection comparable avec le procédé du IFA / BIA 7487 (0, 008%). Analyse par échantillon (n° de commande 122) 100, 00 € / 119, 00 € Production d'un échantillon composite, constitué de 5 échantillons élémentaires au max. (131) 123, 114, 131 Analyse quantitative conformément au projet VDI 3866, part 5, annexe B:2017-06, suivant le procédé du IFA / BIA 7487 Résultat quantitatif avec indication de la concentration d'amiante en pourcentage en masse. Limite de détection comparable au procédé du IFA / BIA 7487 (0, 008%). Analyse par échantillon (n° de commande 123) Production d'un échantillon composite, constitué de 5 échantillons élémentaires au max. (131) 124, 114 Analyse quantitative conformément au projet VDI 3866, part 5, annexe B:2017-06, en tenant compte des prescriptions élargies du « papier de discussion relatif aux crépis, … contenant de l'amiante » de l'association VDI et de la fédération pour les travaux de dépollution, datant de 2015-06.

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Caractérisation de la matière L'imagerie électronique permet la mise en évidence de nombreuses caractéristiques telles que la morphologie, l'état de surface, les différences de compositions chimiques et de nombreux autres détails microscopiques sur tout types de matériaux à l'aide de notre équipement à pression variable. Nous observons donc les surfaces saines, polluées, avec défaut, sans défaut, facies de rupture, zones de corrosion pour une analyse détaillée des matériaux et des surfaces. Nos MEB (SEM en anglais) sont tous équipés d'une sonde élémentaire EDX permettant l'analyse chimique semi-quantitative des zones d'intérêts. Cette technique de détection physico-chimique permet la détection des éléments à partir du Berrylium, sur tous les éléments du tableau de Mendeleiev, et sur tout type de matériaux (minéral, organique, métallique). Nos moyens techniques permettent des analyses point par point, en profil ou par cartographie élémentaire.

Vous pouvez opter pour des commandes OEM et des emballages personnalisés sur demande. Les produits sont emballés avec soin afin que vous puissiez les recevoir dans un état intact.